T. Šikola: шукати на сайті Z-Library

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.84 MB

english, 2019

High resolution time-of-flight low energy ion scattering

M. Draxler, S.N. Markin, M. Kolíbal, S. Průša, T. Šikola, P. Bauer

Журнал:

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 106 KB

english, 2005

Thermal stability of undoped polycrystalline silicon layers on antimony and boron-doped substrates

D. Lysáček, L. Válek, J. Spousta, T. Šikola, R. Špetík

Журнал:

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 966 KB

english, 2010

Ab initio study of thin metallic and ceramic films

D. Rafaja, V. Valvoda, T. Šikola, J. Spousta

Журнал:

Prof. Dr. K. Dostâl, Dr. J. Šikola, Dr. M. Meisel, Prof. Dr. H. Grunze

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 373 KB

english, 1998

Über die Reaktion von Thiophosphoryltrichlorid mit Hexamethyldisilazan

Журнал:

Zeitschrift für anorganische und allgemeine Chemie

Рік:

1986

Мова:

german

Файл:

PDF, 458 KB

german, 1986

Dynamic switching of the spin circulation in tapered magnetic nanodisks

Uhlíř, V., Urbánek, M., Hladík, L., Spousta, J., Im, M-Y., Fischer, P., Eibagi, N., Kan, J. J., Fullerton, E. E., Šikola, T.

Журнал:

Nature Nanotechnology

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.18 MB

english, 2013

Real-Time Observation of Collector Droplet Oscillations during Growth of Straight Nanowires

Kolíbal, Miroslav, Vystavěl, Tomáš, Varga, Peter, Šikola, Tomáš

Журнал:

Nano Letters

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.51 MB

english, 2014

Stress-free deposition of [001] preferentially oriented titanium thin film by Kaufman ion-beam source

Gablech, Imrich, Caha, Ondřej, Svatoš, Vojtěch, Pekárek, Jan, Neužil, Pavel, Šikola, Tomáš

Журнал:

Horák, Michal, Bukvišová, Kristýna, Švarc, Vojtěch, Jaskowiec, Jiří, Křápek, Vlastimil, Šikola, Tomáš

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.98 MB

english, 2017

Comparative study of plasmonic antennas fabricated by electron beam and focused ion beam lithography

Журнал:

Scientific Reports

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.24 MB

english, 2018

The mechanism and suppression of physisorbed-water caused hysteresis in graphene FET sensors

Bartosik, Miroslav, Mach, Jindrich, Piastek, Jakub, Nezval, David, KoneÄnÃ½, Martin, Å varc, VojtÄch, Ensslin, Klaus, Sikola, Tomas

Журнал:

ACS Sensors

Рік:

2020

Файл:

PDF, 4.18 MB

2020

Vibrational analysis of the cantilever in non-contact scanning force microscopy

R. Kalousek, F. Lopour, P. Dub, T. Šikola

Журнал:

Jiří Červenka, Radek Kalousek, Miroslav Bartošík, David Škoda, Ondřej Tomanec, Tomáš Šikola

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 120 KB

english, 2000

Fabrication of nanostructures on Si(1 0 0) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 647 KB

english, 2006

Stability of hydrogen-terminated vicinal Si(1 1 1) surface under ambient atmosphere

M. Kolíbal, J. Čechal, M. Bartošík, J. Mach, T. Šikola

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 289 KB

english, 2010

In situ analysis of Ga-ultrathin films by TOF-LEIS

M. Kolíbal, S. Průša, M. Plojhar, P. Bábor, M. Potoček, O. Tomanec, P. Kostelník, S.N. Markin, P. Bauer, T. Šikola

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 369 KB

english, 2006

Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures

Jan Čechal, Josef Polčák, Miroslav Kolíbal, Petr Bábor, Tomáš Šikola

Журнал:

Applied Surface Science

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 532 KB

english, 2010

Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling

Petr Bábor, Radek Duda, Stanislav Průša, Tomáš Matlocha, Miroslav Kolíbal, Jan Čechal, Michal Urbánek, Tomáš Šikola

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 909 KB

english, 2011

TOF–LEIS analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(1 1 1)

Miroslav Kolı́bal, Stanislav Průša, Petr Bábor, Tomáš Šikola

Журнал:

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 413 KB

english, 2004

A study of the formation and oxidation of PtSi by SR–PES

Jan Čechal, Tomáš Šikola

Журнал:

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 446 KB

english, 2006

The surface oxide: A LEED, DFT and STM study

Petr Kostelník, Nicola Seriani, Georg Kresse, Anders Mikkelsen, Edvin Lundgren, Volker Blum, Tomáš Šikola, Peter Varga, Michael Schmid

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 911 KB

english, 2007

A study of Ga layers on Si(1 0 0)-(2 × 1) by SR-PES: Influence of adsorbed water

Jan Čechal, Jindřich Mach, Stanislav Voborný, Petr Kostelník, Petr Bábor, Jiří Spousta, Tomáš Šikola

Журнал:

Jan Čechal, Jaroslav Luksch, Kateřina Koňáková, Michal Urbánek, Eva Brandejsová, Tomáš Šikola

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 703 KB

english, 2007

Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: Formation of Co islands

Журнал:

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 689 KB

english, 2008

A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation

T. Matlocha, S. Průša, M. Kolíbal, P. Bábor, D. Primetzhofer, S.N. Markin, P. Bauer, T. Sikola

Журнал:

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.53 MB

english, 2010

Deposition and in-situ characterization of ultra-thin films

Stanislav Voborný, Miroslav Kolı́bal, Jindřich Mach, Jan Čechal, Petr Bábor, Stanislav Průša, Jiřı́ Spousta, Tomáš Šikola

Журнал:

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 146 KB

english, 2004

Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: An ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy analysis

Jan Čechal, Tomáš Matlocha, Josef Polčák, Miroslav Kolíbal, Ondřej Tomanec, Radek Kalousek, Petr Dub, Tomáš Šikola

Журнал:

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.24 MB

english, 2009

Ellipsometry and transport studies of thin-film metal nitrides

J Humlı́ček, A Nebojsa, J Hora, M Stráský, J Spousta, T Šikola

Журнал:

Surface and Coatings Technology

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 278 KB

english, 1998

Spot intensity processing in LEED images

R Roučka, J Jiruše, T Šikola

Журнал:

Vacuum

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 104 KB

english, 2002

Application of simple kinematic predictions for the structural search in LEED

J. Jiruše, T. Šikola

Журнал:

Vacuum

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 179 KB

english, 1999

Dual ion-beam deposition of metallic thin films

Tomás Sikola, Jiri Spousta, Libuse Dittrichová, Alois Nebojsa, Vratislav Perina, Radek Ceska, Petr Dub

Журнал:

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 538 KB

english, 1996

Deposition of metal nitrides by IBAD

T Šikola, J Spousta, R Češka, J Zlámal, L Dittrichová, A Nebojsa, K Navrátil, D Rafaja, J Zemek, V Peřina

Журнал:

Surface and Coatings Technology

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 273 KB

english, 1998

Microhardness of thin molybdenum films

Vladislav Navrátil, Tomáš Šikola

Журнал:

Materials Science and Engineering: A

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 239 KB

english, 1997

Application of AFM in microscopy and fabrication of micro/nanostructures

F. Lopour, R. Kalousek, D. Škoda, J. Spousta, F. Matějka, T. Šikola

Журнал:

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 156 KB

english, 2002

Study of thin oxide films by ellipsometry and ARXPS

P. Tichopádek, A. Nebojsa, J. Čechal, P. Bábor, P. Jurkovič, K. Navrátil, T. Šikola

Журнал:

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 113 KB

english, 2002

In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films

J. Spousta, M. Urbánek, R. Chmelík, J. Jiruše, J. Zlámal, K. Navrátil, A. Nebojsa, T. Šikola

Журнал:

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 198 KB

english, 2002

Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry

M. Urbánek, J. Spousta, K. Navrátil, R. Szotkowski, R. Chmelík, M. Buček, T. Šikola

Журнал:

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 152 KB

english, 2004

In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS

J. Čechal, P. Tichopádek, A. Nebojsa, O. Bonaventurová Zrzavecká, M. Urbánek, J. Spousta, K. Navrátil, T. Šikola

Журнал:

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 111 KB

english, 2004

Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method

Josef Polčák, Jan Čechal, Petr Bábor, Michal Urbánek, Stanislav Průša, Tomáš Šikola

Журнал:

Karcl Dostál, Jiři Šikola

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 216 KB

english, 2010

Trimethylsilylester der Fluorselensäure: Herrn Professor Herbert Grunze zum 60. Geburtstag gewidmet

Журнал:

Zeitschrift für Chemie

Рік:

1983

Мова:

german

Файл:

PDF, 155 KB

german, 1983

TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis

M. Kolíbal, O. Tomanec, S. Průša, M. Plojhar, S.N. Markin, L. Dittrichová, J. Spousta, P. Bauer, T. Šikola

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 936 KB

english, 2007

Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(1 0 0) surface

Jindřich Mach, Jan Čechal, Miroslav Kolíbal, Michal Potoček, Tomáš Šikola

Журнал: